Metrological Logic & Technical Specifications
解析合成標準不確定度的計算邏輯,確保測量結果的科學嚴謹性。
測量軸線必須與被測件的軸線重合,以消除由於導軌誤差引起的一次誤差。我們的儀器設計嚴格遵循阿貝原則,透過同軸配置將機械結構引起的二次誤差降至最低。
Abbe Error: \(\Delta L = d \cdot \tan(\theta)\)
解析空氣折射率隨溫度、濕度、壓力變化對雷射量測的影響。我們採用修正後的 Edlén 公式進行實時大氣補償。
| 參數項目 | 規格數值 |
|---|---|
| 最小讀數 (Resolution) | 0.001 μm |
| 示值誤差 (MPE) | ±(0.5 + L/500) μm |
| 長期穩定性 (Stability/Year) | < 0.1 μm |
| 採樣頻率 (Sampling) | 100 kHz |
| 工作溫度 (Temp) | 20 ± 0.1 °C |