計量邏輯與技術規格

Metrological Logic & Technical Specifications

核心技術模組

不確定度評定 (GUM 法)

解析合成標準不確定度的計算邏輯,確保測量結果的科學嚴謹性。

$$u_c(y) = \sqrt{\sum_{i=1}^n \left(\frac{\partial f}{\partial x_i}\right)^2 u^2(x_i)}$$

阿貝原則 (Abbe Principle)

測量軸線必須與被測件的軸線重合,以消除由於導軌誤差引起的一次誤差。我們的儀器設計嚴格遵循阿貝原則,透過同軸配置將機械結構引起的二次誤差降至最低。

Abbe Error: \(\Delta L = d \cdot \tan(\theta)\)

環境補償係數 (Edlén Equation)

解析空氣折射率隨溫度、濕度、壓力變化對雷射量測的影響。我們採用修正後的 Edlén 公式進行實時大氣補償。

(n-1)tp = (n-1)s * [p(1+p(B-C t)) / (1+α t)760] - ...
技術數據表
參數項目 規格數值
最小讀數 (Resolution) 0.001 μm
示值誤差 (MPE) ±(0.5 + L/500) μm
長期穩定性 (Stability/Year) < 0.1 μm
採樣頻率 (Sampling) 100 kHz
工作溫度 (Temp) 20 ± 0.1 °C